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본 발명은 반도체 패키지의 결함 검출 시스템 및 이를 이용한 검출 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, x선 영상 생성 장치가 생성한 하나 ...
본 발명은 용탕의 점성도 측정장치 및 측정방법에 관한 것으로서, 특히 주형에 X선을 방사하고 이를 카메라를 이용하여 촬영함으로써 용탕의 유동상태...
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